一种用于矿物扫描分析的高光谱成像仪[发明专利]
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专利名称：一种用于矿物扫描分析的高光谱成像仪专利类型：发明专利发明人：李晶,王宏
申请号：CN201210058888.5申请日：20120308公开号：CN103308453A公开日：20130918
摘要：本发明涉及一种适用于矿物分析高光谱成像光谱仪，适用于在矿业勘探过程中的矿物样品分析以及岩芯扫描编录过程，利用不同矿物的光谱频段响应特性，对岩石进行高光谱扫描、分析与标识，属于高光谱成像探测技术领域。该类型光谱仪器由光源、前置光学系统、标定系统、干涉光路系统、采集与分析系统等几部分组成。其中干涉光路系统由4块三角形的玻璃组合成Sagnac干涉系统，通过直角放置，可以快速完成光路的调整，形成对目标辐射的切割。标定系统采用小型固体激光器作为标定光源3，由反射镜4引入干涉光路，在仪器进行自校准和调整时开启，完成对仪器光学系统的监测。系统的采集与分析部分将目标的干涉图样，进行数字化分析处理，通过傅里叶变换得到高光谱图像。
申请人：王宏
地址：100070 北京市丰台区富丰路8号院3-5-402
国籍：CN
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