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专利名称：修复电路和存储器专利类型：实用新型专利发明人：张良
申请号：CN202022350793.3申请日：20201020公开号：CN212516572U公开日：20210209
摘要：本申请实施例涉及一种修复电路和存储器，修复电路包括：多个冗余存储单元，每个冗余存储单元配置有一状态信号；修复模块，分别与多个冗余存储单元连接，用于根据多个状态信号，从多个冗余存储单元中确定出目标存储单元，并通过目标存储单元对缺陷存储单元进行修复；其中，目标存储单元与缺陷存储单元一一对应，修复模块能够在多个修复阶段分别对不同的缺陷存储单元进行修复，且多个修复阶段共用多个冗余存储单元。通过响应于冗余存储单元的状态信号，选择目标存储单元，并在多个修复阶段共用冗余存储单元，提高了对缺陷存储单元的修复率和修复灵活性，即，提供了一种修复灵活性和可靠性更高的修复电路。
申请人：长鑫存储技术有限公司
地址：230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：纪婷婧
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