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半导体器件结构[实用新型专利]

来源:化拓教育网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:半导体器件结构专利类型:实用新型专利发明人:李晓锋,黄富强申请号:CN202022561773.0申请日:20201109公开号:CN213212147U公开日:20210514

摘要:一种半导体器件结构,包括金属环腔、位于金属环腔内的芯片,以及连接片,连接片为导电金属,其一端与第一金属电极固定连接,另一端与金属环腔固定连接。通过金属环腔和连接片使得将芯片的电极从一面引到另一面,即第二金属电极和金属环腔底部的金属底座外露,便于两个电极贴装在PCB板上,也就是使得芯片的两个电极在同一面上,结构紧凑,更便于直接贴装在PCB板上,能够提高加工效率,另外,通过类似于桶装结构包封住芯片,使得器件的整体类似一个纽扣电池的形状,芯片的外围全部被金属包绕,金属导热性能良好,外部的导热面积大,提高芯片的导热性能,特别是针对一些较大功率的半导体器件,其能够满足快速封装和散热性能良好的双重功能。

申请人:浙江里阳半导体有限公司

地址:317600 浙江省台州市玉环市芦浦镇漩门工业区

国籍:CN

代理机构:深圳鼎合诚知识产权代理有限公司

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