一种高端的集成电路测试装置[发明专利]
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专利名称：一种高端的集成电路测试装置专利类型：发明专利发明人：陆伟城,杜永康申请号：CN201810477881.4申请日：20180518公开号：CN108761307A公开日：20181106
摘要：本发明公开了一种高端的集成电路测试装置，包括固定底板，所述固定底板上端面的右侧设有智能传送机构，所述智能传送机构上方设有控制箱，所述控制箱内部的右侧设有测试控制器，所述升降套筒下端穿出升降槽的开口处且连接有检测连接装置，所述控制箱左端面的下端固定连接有向左延伸的连接板，所述固定底板上端面的中间位置处设有回收箱。本发明工作中，通过测试控制器控制检测过程中的设备运转，能够数据化的收集检测信息，然后通过显示面板显示，便于检测过程中的数据观察以及数据的智能保存，避免了人工辨别与记录过程中的人为因素干扰，增强了装置的防错功能，检测、筛选、分离通过同一装置完成，节约的设备成本，增加了工作效率。
申请人：广州粤晟科技有限公司
地址：510000 广东省广州市天河区软件路17号G2栋5楼D23
国籍：CN
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