自动测试装置及方法[发明专利]
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专利名称：自动测试装置及方法专利类型：发明专利发明人：李刚
申请号：CN200410074594.7申请日：20040907公开号：CN1746694A公开日：20060315
摘要：本发明公开一种自动测试装置及方法，其中所述自动测试装置包括至少一个用例层，用于针对测试功能而封装的测试步骤，并指定所支持的被测对象和测试内容；至少一个设备接口层，用于被测对象对外提供控制和查询设备信息的设备接口；支撑层，位于用例层和设备接口层之间，用于屏蔽被测对象的差异，对设备接口进行封装，向用例层提供统一操作接口和统一数据访问接口；根据用例层的调用，适配相应的测试数据及正确的被测对象设备接口层。所述自动测试方法包括以下步骤：针对测试对象和测试内容，执行测试步骤；根据测试步骤，统一匹配测试数据及相应设备接口调用；根据测试步骤，返回相应测试用例的测试结果。
申请人：华为技术有限公司
地址：518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
国籍：CN
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：王学强
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